歡迎來到深圳市京都玉崎電子有限公司！
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產品分類 / PRODUCT
更新時間：2024-12-17 
瀏覽次數(shù)：735在X射線熒光分析中，物質中所含的每種元素都會產生多種特征X射線，因此需要一種裝置使用適當?shù)姆椒▽⑺鼈兎蛛x并分別測量它們的強度。根據檢測 X 射線的方法，有兩種類型的設備。它們是波長色散 (WDX) 和能量色散 (EDX)。
1.波長色散裝置
這是一種使用分光元件將 X 射線分離成波長并將其引導至探測器的設備。該探測器僅測量目標特征X射線的強度，具有高波長分辨率和優(yōu)異的測量靈敏度和精度。
然而，測量樣品的表面必須光滑，并且分光元件和探測器必須精確旋轉，使得設備大型且昂貴。
2、能量分散裝置
熒光X射線直接進入探測器，接收到的信號在設備內部進行電處理以探測特征X射線。盡管分辨率、靈敏度和準確度不如波長色散類型，但它們需要的分析時間更少，更容易處理，而且更便宜。另外，由于易于小型化，即使表面凹凸也能進行測量，因此有手持式等多種產品在銷售。
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